德国Bruker X-射线荧光测厚仪

M1—Mistrial X-射线荧光镀层测厚仪
    Mistrial系列是一款简洁、坚固和可靠的质量控制XRF台式荧光系统，用于简便、快速的镀层厚度测试和材料分析。

    Mistrial可应用于常规金属处理、电子元器件制造和金属测定（如珠宝鉴定）等行业，完成单层或多层厚度测量。

主要特点包括：;
成本低、快速、非破坏的EDXRF分析
可完成至多12层镀层（另加底材）和25个元素的镀层厚度测试，
的多元素辨识，广泛覆盖元素表上从钛（原子序数22号）到铀（92号）各元素

使用广受推崇的能量色散X射线荧光（EDXRF）技术, Mistrial可实现如下测试要求：
符合ISO3497标准测试方法：金属镀层——X射线光谱法测量镀层厚度 
符合ASTM B568标准测试方法：X射线光谱仪测量镀层厚度，包括金属和部分非金属镀层
至多同时分析25种元素

如需了解详细产品规格资料，烦请不吝来电！