MPS30系列 脉冲雷达物位计

MPS30系列脉冲雷达物位计是基于时域反射原理的*测量系统。雷达物位计的天线发射极窄的微波脉冲，这个脉冲以光速在空间传播，遇到被测介质表面时，由于介电常数发生突变，微波脉冲的部分能量被反射回来，并被天线系统接收。

发射脉冲与接收脉冲的时间间隔与雷达天线到被测介质表面的距离成正比。通过测量发射脉冲与反射脉冲的时间差，并由式(1)即可计算出被测物质到仪表法兰的距离。

D=1/2·ct (1)

其中D为测量参考面到被测介质的距离，c为光（电磁波）在真空的的传播速度，t为发射脉冲与反射脉冲的时间差。

然后根据用户设定的空料位位置，由式(2)即可计算出物料高度。

L=E-D (2)

其中E为测量参考面到用户设定的空料位位置，D为测量参考面到被测介质的距离，L为物料高度。