射频综合测试仪MDR-T8200-P-G

       此款射频综合测试仪，用于智能卡、RFID标签，低频/高频谐振频率检测，便携式测试装置，轻松地实现谐振频率、Q值、频宽等检测。

       射频综合测试仪检测功能介绍：
        •   智能卡、RFID标签的谐振频率等参数检测：有些智能卡或RFID标签的谐振频率会随着射频功率的变化而改变。该设备可将射频功率设置在-30dBm至15dBm范围
            内，并且可在高射频功率下确定谐振特性，使安装在卡或RFID标签上的芯片能够进行通信
        •   UID追踪与管理：使用UID进行可跟踪管理（检查日志保存为CSV格式的文本文件）

       射频综合测试仪应用范围：
       1、智能卡、RFID标签的谐振频率检测
        •   判断测量结果是否通过
        •   自动生成检查日志文件
        •   读取芯片UID内码
        •   可调射频功率达到15dBm
        •   芯片绑定前可对射频天线检测

       2、RFID读写器天线的谐振频率检测
        •   检查电容器失效的共振频率

       3、无线电源供应的自谐振频率检测

       射频综合测试仪产品参数：
        •   测量方法：磁场耦合测量方法
        •   测量内容：传输电压和反射电压的振幅
        •   检测项目：谐振频率、衰减、Q值、UID读取
        •   支持协议：ISO14443A (MIFARE Classic, MIFARE Ultralight)；ISO14443 B(仅 PUPI), FEliCa；ISO15693 (Tag -it HF - I Plus/Pro, ICODE SLIX2)
        •   测量点数：100～2048点
        •   检测时间（高频频段测量点数=1000）：谐振频率检测：0.5秒；谐振频率和ID读取：1秒（检测时间取决于PC端的设置、机器检测内容的设置、检测对象特性等）
        •   检测结果检测波形保存功能：检测日志文件(csv格式文本文件)；UID, PASS / FAIL、谐振频率、衰减、Q值；波形数据:.csv, .jpg文件
        •   频率设置范围：10 KHz～100 MHz
        •   可调的射频功率(@50Ωload)：－30～+15 dBm
        •   DIO 电路类型：隔离I/O
        •   支持系统：PC(OS) Windows7, Windows8.1, Windows10；USB 2.0 或更高
        •   电源：USB 总电源(小号电流500毫安或以下)
        •   装箱清单：主机、USB接口线、同轴电缆(2根)、高频标准卡尺寸测试治具及可选的不同尺寸规格的测试天线板、安装驱动盘
        •   尺寸：125(W)x165(D)x40(H)(不包括测试治具)；
        •   重量：0.8kg