电路芯片高低温老化箱

一、电路芯片高低温老化箱性能：

指气冷式在室温20℃，空载时

规格型号：HE-WS-80/100/150/225/408/800/1000（A、B、C、D、E）

容量：

80升内箱尺寸（宽*高*深）：400X500X400mm

150升内箱尺寸（宽*高*深）：500X600X500mm

225升内箱尺寸（宽*高*深）：600X750X500mm

408升内箱尺寸（宽*高*深）：600X850X800mm

800升内箱尺寸（宽*高*深）：1000X1000X800mm

1000升内箱尺寸（宽*高*深）：1000X1000X1000mm

温度范围：

A表示：0℃～+150℃，B表示：-20℃～+150℃，C表示：-40℃～+150℃，

D表示：-60℃～+150℃，E表示：-70℃～+150℃

温度精度：±0.01℃

温度波动度：±0.5℃

温度均匀度：±2.0℃

湿度范围：20%RH～98%RH

湿度精度：±0.1%R.H

湿度波动度：±2.0%R.H.

湿度均匀度：±3%R.H.

升温速率：平均3℃/min（非线性、空载时；从常温+25℃升至+85℃约20min）；可按要求定制非标规格

降温速度：平均1℃/min（非线性、空载时；从常温+25℃降至-40℃约65min）；可按要求定制非标规格

二、电路芯片高低温老化箱特点：

1.具有极宽的温度控制范围从-70到+150℃温区选用，可满足用户的各种需要。

2.采用*的平衡调温方式，可调节理想的温度环境，具有稳定平衡式加热能力，可进行高精度、高稳定的温度控制。

3.温度控制采用进口程序控制型仪表。

4.本试验箱具有随温度的设定数值自动选择运转制冷回路的机能，操作简单。

5.试验箱内温度设定采用键盘设定器，使设定简单易行，仪表具有偏差修正功能，经过调整可获得更为准确的试验条件。

6.试验箱大门装有带灯观察窗，可方便地观察试样品的试验状态。

7.具有高温开机功能，能在箱内温度130℃时开启冷机快速降温，用户可方便连续地进行高温、低温循环试验。

8.制冷系统中采用冷却的冷凝方式，使用进口全封闭压缩机。