覆层测厚仪

TT220覆层测厚仪基本配置：
■TT220主机 一台
■标准样片 1盒
■标准基体 1块
■充电器 1个

技术参数：
■测头类型：F。
■测量原理：磁感应。
■测量范围：0-1250um。
■低限分辨力：1?m（10um以下为0.1um）。
■探头连接方式：一体化。
■示值误差：一点校准（um）±[3%H 1]。
■两点校准（um）： ±[（1～3）%H 1]。
■测量条件：小曲率半径（mm） 凸 1.5 凹9。
■基体小面积的直径（mm）：ф7。
■小临界厚度（mm）：0.5。
■温湿度：0~40℃，20%RH～90%RH。
■统计功能：平均值（MEAN）、大值（MAX）、小值（MIN）、测试次数（NO．）、
标准偏差（S．DEV）。
■工作方式：直接方式（DIRECT）和成组方式（Appl）。
■测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）上下限设置。
■存储能力：15 个测量值。
■打印/连接计算机：可选配打印机/不能连接电脑。
■关机方式：自动。
■电源：二节3.6V镍镉电池。
■外形尺寸：150×55.5×23mm。
■覆层测厚仪重量：150g。
■基本配置：主机。
■标准片一套（50um 100um 200um 500um 1000um）。
■铁基体。
■充电器。
■可选附件。
■TA230打印机。

主要功能：
■可进行零点校准及二点校准，并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正：
■具有两种测量方式地：连续测量方式（continue）和单次测量方式（single）;
■具有两种工作方式：直接方式和成组方式；
■具有删除功能：对测量中出现的单个可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据，以便进行新的测量；
■设有五个统计量：平均值地（MEAN）、大值（MAX）、小值（MIN）、测试次数（NO.）、标准偏差（S.DEV）；
■具有打印功能，或打印测量值、统计值；
■具有欠压指示功能；
■操作过程有蜂鸣声提示；
■具有错误提示功能；
■具有自动关机功能。