日本Otsuka膜厚测量用多通道光谱仪@推荐2023性能特点

• MCPD-9800：高动态范围分光

• MCPD-6800：紫外/可见/近红外光分光光谱仪

• MCPD-7700：高感度分光

膜厚测量

半导体晶圆膜（氧化膜、氮化膜、光阻膜）光阻剥离液厚度、湿状薄膜涂布膜（Coating膜、蒸镀膜、接着剂、亚克力树脂、光碟片膜层、薄膜磁头）树脂膜（PET、PP、PE、PC、Nylon）、机能性薄膜、包裝膜

膜厚测量(分光光谱仪 + 显微镜)

半导体晶圆膜（氧化膜、氮化膜、光阻膜）光阻剥离液厚度、湿状薄膜塗布膜（Coating膜、蒸镀膜、接着剂、亚克力树脂、光碟片膜层、薄膜磁头）树脂膜（PET、PP、PE、PC、Nylon）、机能性薄膜、包装膜。

影印機感光鼓膜厚度量測

半导体晶圆膜（氧化膜、氮化膜、光阻膜）光阻剥离液厚度、湿狀薄膜塗布膜（Coating膜、蒸镀膜、接着剂、亚克力树脂、光碟片膜层、薄膜磁头）树脂膜（PET、PP、PE、PC、Nylon）、机能能性薄膜、包装膜

LB膜测量

蒸馏膜测量

多点膜厚测量

• 半导体晶圆膜（氧化膜、氮化膜、光阻膜）

• 光阻剥离液厚度、湿狀薄膜

• 塗布膜（Coating膜、蒸镀膜、接着剂、亚克力树脂、光碟片膜层、薄膜磁头）

• 树脂膜（PET、PP、PE、PC、Nylon）、机能能性薄膜、包装膜

深圳华普通用科技有限公司，业提供实验室分析测试仪器和自动化方案。公司分为仪器代理和自主研发两大业务板块。代理业务是和仪器公司合作，从事设备代理以及售后服务。自主研发业务是综合运用自动化、机器人、计算机视觉以及人工智能等技术，为客户提供标准化仪器和自动化解决方案，降低实验室人员工作强度，提升工作效率，同时提高工作质量。

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