产品详情
概述:
产品特点:
1) 本仪器符合以下标准GB/T 4956-1985 磁性金属基体上非磁性覆层厚度的测量(磁性方法)
11) 测量原理磁性法当测头与覆层接触时,测头与磁性金属基体构成一闭合磁路,由于非磁性覆层的存在,使磁路磁阻发生变化,通过测量其变化量,可测得其覆层的厚度。
3. 分辨率:0.1um/1um(100um以下为0.1um)
4. 测量精度误差:零点校准 ±(1.5+3%H);二点校准±【(1%~3%H)】H+1.5
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