半导体粉末电阻率测试台型号： SZT-D

半导体粉末电阻率测试台/粉末电阻率测定仪 型号： SZT-D

本测试台参照有关标准进行设计，可以对半导体粉末、高分子纳米粉末和固态金属粉末进行电阻、电阻率多用途的测量。
组成及特点：测试台为探头、加压机构、粉末标准容器、压力检测、厚度检测等单元组成。压力机构采用手动操作，压力平稳可调，电子数码显示压力值。本仪器可一边加压同步测试，可方便测试不同压力下粉末的导电性能曲线，也可以单独作为粉末压制成片的工具使用，成片后可脱模取出，用普通四探针法测试相关参数！本仪器具有测量精度高，操作简便、稳定性好，重复性好，一机多用使用方便等特点。

半导体粉末电阻率测试台
本仪器采用通用的电流、电压四端子测量法（两个电流和电压电同时和样品接触），可以消除电与导线导通电阻产生的误差，克服了传统的二端测量粉末电阻率仪器的弊病，可以真实地、准确地测量出粉末样品的电阻率，因此重复性好。测试参数时同步检测压力和高度，也是区别于以往旧款同类测试台新特点！便于研究材料的特性曲线！
本仪器适用于碳素厂、焦化厂、石化厂、粉末冶金厂、高等院校、科研部门、是检验和分析固态和粉态样品质量的一种重要优良工具。

半导体粉末电阻率测试台
主要技术指标：
注测量范围由配置的主机确定，以配ST2258A数字式四探针测试仪为例：
1、测量范围：
电阻率： 10-4～200X103Ω-cm
方块电阻： 10-3～200X 104Ω/□
电 阻： 10-4～200X104Ω
测量误差±（0.3%读数+2字）
2、测量电压量程： 200 mV
测量精度±（0.3%读数+2字）
3、⑴电流输出：直流电流 0～1000mA 连续可调，由交流电源供电。
⑵量程：1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100mA, 1000mA
⑶误差：±0.5%读数±2 字
4、 显示方式3 1/2数量字显示电阻、电阻率, 单位、小数点自动显示。
5、 电源：220±10% 50HZ-60HZ功率消耗<15W消耗
6、 主机 240mm（长）×180 mm（宽）×80mm（高）



********“SZT-D型半导体粉末电阻率测试台”参数********
1、 试样粒度：40目以下（标准筛网）
2、 试样容器：内经：Φ11.28mm（S=1.0cm2）
高度：0～20mm可调,带高度尺监测，测量误差：±0.02mm。
3、测试压强
标准压强：P0=4Mpa±0.05Mpa，合压力40kg±0.5 kg(S=1.0cm2)。
压强量程：10Mpa, P=0～10 Mpa可调，合压力0～100Kg,(S=1.0cm2)
4、压力机构采用手动操作、压力平稳可调。
电子数码显示压力值！四位有效显示数0～200Kg，分别率±0.1 kg！
5、测试台外形：250mm（前宽）×220 mm（后长）×540mm（总高）
重 量：10Kg