全自动静态容量法比表面及孔隙率仪

金埃谱科技是早参与比表面积标准物质标定的机构,测试结果与国外数据可比性平行性,并获取上海*检测证书,同时金埃谱科技也是国内同行业中*一家注册资本超百万的生产企业,让您选购的产品无后顾之忧!

全自动静态容量法比表面及孔隙率仪性能参数

测试方法及功能:氮吸附真空容量法（真空静态法）,吸附及脱附等温线测定,BJH总孔体积及孔径分布孔隙率分析,样品真密度测定,t-plot图法微孔分析,MP法微孔分析,HK法微孔分析,BET法比表面积测定（单点及多点）,平均粒径估算,Langmuir法比表面积测定,t－plot图法外比表面积测定

测定范围:0.01（m2/g）--至无上限（比表面积）;0.35nm-400nm（孔径）

测量精度:重复性误差小于1.5%

真空系统:V-Sorb*的集装式管路及电磁阀控制系统,大大减小管路死体积空间,提高检测吸附气体微量变化的灵敏度,从而提高孔径分布孔隙率测定的分辨率;同时集装式管路减少了连接点,大大提高密封性和仪器使用寿命.

液位控制:V-Sorb*的液氮面控制系统,确保测试全程液氮面相对样品管位置保持不变,*消除因死体积变化引入的测量误差.

控制系统:采用可编程控制器电磁阀控制系统,高集成度和抗*力,提高仪器稳定性和使用寿命.

样品数量:同时进行2个样品分析和2个样品脱气处理

压力测量:采用压力分段测量的进口双压力传感器,显著提高低 P/Po点下测试精度,0-1000 Torr（0-133Kpa）,0-10 Torr （0-1.33Kpa）

压力精度:进口硅薄膜压力传感器,精度达实际读数的0.15％,优于全量程的0.15％,远高于皮拉尼电阻真空计精度（一般误差为10%-15％）

分压范围:P/Po 准确可控范围达5x10－6－0.995

极限真空:4x10－2Pa （3x10－4Torr）

样品类型:粉末,颗粒,纤维及片状材料等

测试气体:高纯N2气（99.999%）或其它（按需选择如Ar,Kr）

数据采集:高精度及高集成度数据采集模块,误差小,抗*力强.

数据处理:Windows兼容数据处理软件,功能完善,操作简单,多种模式数据分析,图形化数据分析结果报表.

全自动静态容量法比表面及孔隙率仪特点

A.比表面及孔隙率仪真空系统

1）*的一体化集装式管路系统,采用进口集装管路,显著减少管路连接点,大大降低漏气率,提高极限真空度.

2）模块化结构设计,一体式集装管路,需人工进行连接的部件少,有利于根据用户需求按需配置及后期功能扩展,有利于维修更换.

3）采用中德合资的真空泵,噪音小,运行稳定,防油返功能,极限真空度高,可达4x10－2Pa （3x10－4Torr）

B.比表面及孔隙率仪控制系统

1）采用广泛应用于工业控制系统中的可编程控制器电磁阀控制系统,抗*力强,稳定性大大提高,安装及拆卸都非常方便;

2）*设计的测试系统管路和样品处理管路分离结构,有效防止样品处理过程中产生的杂质对测试管路的污染.

C.比表面及孔隙率仪提高测试精度措施

1）采用与同类进口产品相同品牌的高精度硅薄膜压力传感器,压力测量精度为相应读数的0.15％,远远优于0.15％的全量程精度（FS）传感器;

2）与国外同类产品类似,采用0－10Torr和0－1000Torr双压力传感器,对测试范围内的压力采用分段测量,大大降低了低真空下的测量误差,0－10Torr的硅薄膜压力传感器精度远高于相同量程的皮拉尼电阻真空计（一般误差为10%-15％）;

3）*的一体化集装式管路系统,采用进口集装管路,显著减少管路连接点,大大减少死体积空间,有利于降低测量误差;

4）*的步进式液氮面控制系统,确保测试全程液氮面相对样品管位置保持不变,*消除因死体积变化引入的测量误差;

5）*设计的抽气及进气控制系统,有效防止样品抽真空和进气过程中的飞溅,确保测试气路的清洁和样品质量无损失,保护高精度压力传感器免受压力巨变可能导致的零点和线性漂移.

D.比表面及孔隙率仪数据采集及处理

1）采用高精度及高集成度数据采集模块,连接方便,误差小,抗*力;采用业界标准的485通讯模式,有利于设备扩展和互连,可方便转换为所需的RS232和USB通讯模式;

2）多种理论计算模型数据分析,为用户提供*的材料分析方案;强大的测试数据归档保存,查询系统,有利于用户数据管理.